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  • BladeCam2-HR-1310CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm

    BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間:2024-12-08
    產(chǎn)品型號:BladeCam2-HR-1310
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  • BeamOn U3-EBladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間:2024-12-08
    產(chǎn)品型號:BeamOn U3-E
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  • BeamOn U3-E激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR)

    Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR) 產(chǎn)品總覽 BeamOn U3是一種光束測量系統(tǒng)是一種光束測量系統(tǒng),用于實時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統(tǒng)是用于連續(xù)或脈沖激光束實時測量的光束診斷測量系統(tǒng)。

    更新時間:2024-12-06
    產(chǎn)品型號:BeamOn U3-E
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  • TaperCamD-LCM.TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質(zhì)量分析儀 355-1150nm

    TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質(zhì)量分析儀 355-1150nm 應用領域 連續(xù)和脈沖激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄

    更新時間:2024-12-06
    產(chǎn)品型號:TaperCamD-LCM.
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  • BladeCam2-HR.WinCamD-LCM-TEL 相機型光斑分析儀 (1480-1605nm)

    WinCamD-LCM-TEL 相機型光斑分析儀 (1480-1605nm) 產(chǎn)品總覽 1”CMOS 光束分析照相機,超高速USB 3.0,190-1605nm,有效面積11.3×11.3 mm,4.2 MP,5.5×5.5 μm像素點,光和電雙觸發(fā)的全局快門,頻率更新至60Hz,WinCamDTM-LCM系列是連續(xù)和脈沖激光光束分析的理想工具。

    更新時間:2024-12-06
    產(chǎn)品型號:BladeCam2-HR.
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